AFR=8760/MTBF(in hours)

可靠性分层：模块级可靠性（器件，硬盘，整机。。。），系统级可靠性（冗余设计，RAID2.0+，PI+DIX，硬盘可靠性。。。），方案级可靠性（快照，数据克隆，远程复制，两地三中心。。。）

SMART技术要求产品制造期间完成可靠性指标的设定，使系统能够通过监测硬盘的各项可靠性指标并和预设的安全值比较从而预测硬盘可能发生的故障。SMART常用属性：

• 0x01 Read error rate
• 0x04 Start/Stop Count
• 0x05 Reallocated sectors count
• 0x09 Power on hours
• 0x0c power cycle count
• 0xc2 temprature
• 0xf1 total LBAs written
• 0xf2 Total LBAs Read

面向环境因素的硬盘可靠性设计：

• 防腐蚀
• 降温
• 抗振

闪存介质可靠性：一般用RBER衡量，影响因子包括P/E次数，Retention time, Program disturb, read disturb

闪存可靠性优化的关键技术：program sequence, scan/refresh, read-retry, corrective read, ECC

系统级可靠性方法：多副本，纠删码（如RS码，RAID6）

分布式存储系统的可靠性技术：数据冗余，故障恢复，数据一致性协议，负载均衡